測(cè)試芯片關(guān)鍵字列表
英特爾宣布交付首個(gè)49量子位量子計(jì)算測(cè)試芯片
1月9日消息，美國(guó)拉斯維加斯時(shí)間1月9日至12日，第51屆國(guó)際消費(fèi)類電子產(chǎn)品展覽會(huì)（CES）在拉斯維加斯舉行，英特爾CEO科再奇在主題演講環(huán)節(jié)表示，英特爾向合作伙伴交付首個(gè)49量子位量子計(jì)算測(cè)試芯片。
臺(tái)積電與賽靈思(Xilinx)、安謀國(guó)際(ARM)、益華電腦(Cadence Design Systems)共同宣布聯(lián)手打造全球首款基于7納米FinFET制程的一款測(cè)試芯片。
英特爾測(cè)試人工智能“自學(xué)”芯片 能像人腦一樣學(xué)習(xí)
英特爾剛剛推出一種新型芯片，這可能會(huì)給人工智能的發(fā)展帶來(lái)重大影響。英特爾實(shí)驗(yàn)室總經(jīng)理邁克爾·梅貝里（Michael Mayberry）表示
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